11月11日下午，戰(zhàn)略院舉辦“科技智庫講堂”第十三講, 上海銀保監(jiān)局原一級巡視員、上海市政府參事張光平博士以“從全球知識產權進出口使用費看科技國際化和科技自主度”為題進行分享。戰(zhàn)略院副院長孫福全主持，我院研究人員、在站博士后參會。

中美博弈背景下，客觀度量中國的科技國際化和科技自主度是一個關鍵問題。張光平博士利用知識產權進出口使用費、各國授權和被境外授權數據，計算出各國國際專利平均“出口使用費”，得出每年各國科技國際化和自主度結果，進一步編制出全球綠色技術和其它主要技術的指標體系，為判斷各國各類技術進展和相對自主度及依賴度提供了依據。

孫福全副院長對報告分享內容給予了肯定。報告結束后，與會人員與張光平博士進行了深入交流。